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日本densoku涡流膜测厚仪DS-110

日本densoku涡流膜测厚仪DS-110

更新日期:2024-05-11

访问量:757

厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
日本densoku涡流膜测厚仪DS-110
晶体振荡可实现
弯曲/球形对的高精度和短测量时间。

日本densoku涡流膜测厚仪DS-110

日本densoku涡流膜测厚仪DS-110

 

・测量值显示为数字且易于阅读
・接通电源后立即开始测量,测量时间在1秒以内
・晶体振荡法的高稳定性(±1%)高精度・可进行
检查无损
・直接读取由于是表达方式,因此无需转换

 

涡流膜厚仪DS-110的特点

易于阅读的数字

测量值显示是数字的,易于阅读。

可以立即进行测量

开关一打开就可以进行测量。测量时间也在1秒以内。

高稳定性(±1%)高精度

由于采用了晶体振荡方法,因此具有很高的稳定性(±1%)和高精度。

可以检查

由于它是非破坏性的,因此可以进行的检查。

无需转换

它是直接读取类型,不需要转换。

支持各种测量

它可以测量金属上的薄膜,镀层,油漆,树脂等。(例如:铝上的氧化膜,铁上的锌镀层,喷漆)

最多可保存1000个数据

一条检查线可以保存1000条数据。

还可以测量非金属上的金属涂层

它可以测量非金属上的金属涂层(例如,塑料上的镀层)。

标配4种类型,最多可以测量70种薄膜厚度

切换开关最多可以测量4种类型的膜厚。另外,通过在制造商处更换检测线,可以测量70多种类型的膜厚。

可以在弯曲表面,球形表面和内部管道上进行测量

也可以在弯曲表面和球形表面上进行测量。另外,可以测量管等的内表面(φ12.7mm以上)。

打印输出功能

您可以打印出测量数据和经过统计处理的值。

测量原理

测量原理 当载有高频电流的探头(测量线圈)靠近金属时,在金属表面会产生涡电流。该涡电流受到高频磁场的强度和频率,金属的电导率,厚度,形状等的影响,并且穿透深度及其大小不同。
然后,涡流流动以抵消探针的高频磁场,从而探针的高频电阻值改变。高频电阻值的这种变化被放大,曲线校正并显示为数字值。因此,膜厚值可以直接读取为数字。曲线校正是由微型计算机计算的。因此,它是高精度和高度稳定的。

涡流膜厚仪DS-110的规格

电源带AC适配器的AC100V-240V
重量3.4公斤
尺寸330(W)x 90(D)x 180(H)毫米

 

涡流膜厚仪DS-110的探头规格

1.
 探头有效范围使用超细探头时
φ5mm的
φ3mm的
2.探头线长900毫米
3.根据导向器的类型可以在弯曲的表面上进行测量
4.探头类型MP类型...平坦凹凸曲面(标准)
SM类型...平坦凹凸曲面(微细的)
RP类型...凹面,管内面
SR型...用于小直径管道内表面
由所述膜测得的探头A,B的厚度,有C和D四种类型。
5.探针指南#180:平面测量
#120:φ25-60mm凸曲面测量
 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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