主要规格
| TSI-2 | ||
|---|---|---|
| 基本表现 | 测量目标 | 样品缺陷，异质性，红外辐射，简单的温度，热性质 |
| 输出数据 | 频率，距离，幅度，相位，亮度，图像数据 | |
| 分析模式 | 点/区域分析，相位分析 | |
| 附上其他 | 温度调制加热器，控制/分析软件，PC | |
| 测量环境 | 温度 | 室温〜250 [℃] |
| 测量频率 | 0.1-10 [Hz] | |
| 红外热像仪 | 元素数 | 336 x 256 |
| 元素类型 | VOx微测辐射热仪 | |
| 像素大小 | 17 [微米] | |
| 观察波段 | 7.5至13.5 [μm] | |
| 帧率 | 30 [Hz] | |
| 解析度 | 约30 [μm] | |
| 半导体激光器（连续振荡） | 波长 | 808 [纳米] |
| 输出 | 5 [W] | |
| 正弦波调制 | 0.1至30 [Hz] | |
| 舞台动作范围 | 水平（XY轴）方向 | ±15 [毫米] |
| 垂直（Z轴）方向 | +50 [mm] | |
| 电源供应 | AC100-240 [V]，10-5 [A]，50/60 [Hz] | |
| 设备主体 | 外形尺寸 | 宽552 x深602 x高657 [mm] |
| 重量 | 76.5 [公斤] | |
| 激光安全标准 | CLASS1，IEC / EN 60825-1：2007 | |
