Facescope PMP10 涡流相位薄膜测厚仪
Facescope PMP10 涡流相位薄膜测厚仪
日本进口fischer-Facescope PMP10 涡流相位薄膜测厚仪
特征
- 适用于粗糙表面、小零件、通孔镀铜等的膜厚测量。
- 也适用于测量铁上镍层的膜厚
- 您可以直接测量抗蚀剂膜下印刷电路板上的铜膜厚度。
主要规格
| 测量方法 | 涡流相位方程 |
|---|---|
| 测量范围 | 各种连接探针的 铜膜厚度（PCB等通孔内）：5 -80 µm PCB等铜膜厚度 ：1 --270 µm 地面Fe Cu膜：1 --200 µm Fe Zn 地面膜: 2-200 µm 地面Fe Ni膜：1-50µm (240kHz), 2-100µm (60kHz) 地面Fe Zn或Cu膜：1-150µm |
| 测量记录 | 20,000例 |
| 车身尺寸 | 230 毫米 x 95 毫米 x 52 毫米（长 x 宽 x 高） |
| 液晶显示器 | 62 毫米 x 43 毫米（宽 x 高） |
| 重量 | 约 600g（主机和电池） |
| 电源供应 | 4.8V 电池，交流适配器（100-240V） |
主要应用
- 印制电路板铜膜厚度
- 印刷电路板上通孔铜厚
- 螺丝头等铁上锌的厚度
