自动测量系统 MMS ®自动化
自动测量系统 MMS ®自动化
日本进口fischer用于薄膜厚度和电导率测量的自动测量系统 MMS ®自动化
特征
- 最多可将 4 个相同类型的探头连接到测量仪器主体上进行同时测量。
- 最多可安装 4 个模块，用于各种膜厚测量方法和电导率测量。
- 使用安装在机械臂等上的探头进行自动测量。
- 支持长达 30 m 的电缆
- 测量仪主体可以安装在控制面板的 DIN 导轨上
主要规格
| 测量方法 | 电磁式、涡流式、涡流相式、磁式、电阻式 |
|---|---|
| 测量范围 | 取决于所使用的模块和探头的组合 |
| 测量精度 | 取决于所使用的模块和探头的组合 |
| 数据容量 | 在多达 1,000 个应用程序中保存 100 万次测量 |
| 机身尺寸（基本单元） | 约 365 x 223 x 127 毫米 |
| 重量 | 连接一个模块时：约 4.5 kg |
主要应用
- PERMASCOPE 模块：磁性和非磁性金属上的绝缘涂层
（例如铁或铝上的涂层） - PERMASCOPE模块：磁性金属上的非磁性膜
（锌、铜、铁上的铬膜等） - PHASCOPE DUPLEX 模块：铁和铝涂层
- PHASCOPE DUPLEX 模块：同时测量铁上的两层镀膜/锌层
- SIGMASCOPE PHASCOPE1 模块、SR-SCOPE 模块：测量 PC 基板上的铜膜厚度
- NICKELSCOPE 模块：在有色金属或绝缘基板上电解镀镍
