荧光X射线测量仪XAN ®系列
荧光X射线测量仪XAN ®系列
日本进口fischer荧光X射线测量仪XAN ®系列
特征
- 由于测量方向是从下方照射的，因此样品定位很容易。
- 配备硅漂移检测器，可实现高分辨率和高灵敏度测量（XAN250、XAN252）
- 紧凑的设计
主要规格
从底部看是辐照式荧光X射线膜厚测量和材料分析仪。X 射线探测器有多种组合，例如半导体探测器 (PIN)、硅漂移探测器 (SDD)、可电动更换的滤波器和准直器。
| 模型 | XAN 215 |
|---|---|
| 测量元件范围 | 氯 (17) -U (92) |
| X射线探测器 | 半导体探测器（PIN） |
| X射线管 | 微调焦管 |
| 初级过滤器 | 1种固定 |
| 准直器数量/尺寸 | 1型固定/Φ1mm |
| 车身尺寸 | 403 x 588 x 365mm（宽x深x高） |
| 测量室尺寸 | 310 x 320 x 90mm（宽x深x高） |
| 能量消耗 | 高达 120W |
| 模型 | XAN 250 |
|---|---|
| 测量元件范围 | 铝 (13) -U (92) |
| X射线探测器 | 硅漂移探测器 (SDD) |
| X射线管 | 微调焦管 |
| 初级过滤器 | 6种 |
| 准直器数量/尺寸 | 4种/Φ0.2mm～Φ2mm |
| 车身尺寸 | 403 x 588 x 365mm（宽x深x高） |
| 测量室尺寸 | 310 x 320 x 90mm（宽x深x高） |
| 能量消耗 | 高达 120W |
| 模型 | 第252章 |
|---|---|
| 测量元件范围 | 铝 (13) -U (92) |
| X射线探测器 | 硅漂移探测器 (SDD) |
| X射线管 | 微调焦管 |
| 初级过滤器 | 6种 |
| 准直器数量/尺寸 | 4种/Φ0.2mm～Φ2mm |
| 车身尺寸 | 403 x 588 x 444mm（宽 x 深 x 高） |
| 测量室尺寸 | 310 x 320 x 174mm（宽 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高达 120W |
| 其他 | 带手动 XY 平台 |
主要应用
- 珠宝和贵金属的质量控制和采购评估
- 同时测量合金材料分析和镀层厚度
- 多层镀膜厚度测量及基材成分分析
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